Goodhew, P. J. (2000). Electron microscopy and analysis (3rd ed.). Routledge.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Goodhew, Peter J. Electron Microscopy and Analysis. 3rd ed. London: Routledge, 2000.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الإصدار التاسع)Goodhew, Peter J. Electron Microscopy and Analysis. 3rd ed. Routledge, 2000.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.