Goodhew, P. J. (2000). Electron microscopy and analysis (3rd ed.). Routledge.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Goodhew, Peter J. Electron Microscopy and Analysis. 3rd ed. London: Routledge, 2000.
Стиль цитування MLA (9-ме видання)Goodhew, Peter J. Electron Microscopy and Analysis. 3rd ed. Routledge, 2000.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.