Electron microscopy and analysis

Bewaard in:
Bibliografische gegevens
Hoofdauteur: Goodhew, Peter J.
Formaat: Boek
Taal:Engels
Gepubliceerd in: London Routledge c2000
Editie:3rd ed.
Onderwerpen:
Tags: Voeg label toe
Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!
Omschrijving
Fysieke beschrijving:x. 251p. : ill. 23om.