Electron microscopy and analysis

Сохранить в:
Библиографические подробности
Главный автор: Goodhew, Peter J.
Формат: ‌
Язык:английский
Опубликовано: London Routledge c2000
Редактирование:3rd ed.
Предметы:
Метки: Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!