Electron microscopy and analysis

Saved in:
Bibliografiske detaljer
Hovedforfatter: Goodhew, Peter J.
Format: Bog
Sprog:engelsk
Udgivet: London Routledge c2000
Udgivelse:3rd ed.
Fag:
Tags: Tilføj Tag
Ingen Tags, Vær først til at tagge denne postø!

MARC

LEADER 00000nam a2200000 4500
001 10034
003 BD-SaJUCL
005 20251023174233.0
008 251023b |||||||| |||| 00| 0 eng d
040 |a BD-SaJUCL  |c BD-SaJUCL  |d BD-SaJUCL 
082 0 4 |a 502.825 
100 1 |a Goodhew, Peter J.  |9 18882 
245 1 0 |a Electron microscopy and analysis  |c / Peter J. Goodhew, John Humphreys and Richard Beanland. 
250 |a 3rd ed. 
260 |a London  |b Routledge  |c c2000 
300 |a x. 251p. : ill.  |c 23om. 
509 |a Mehedi_Hasan_68_3_Document_6_220.jpg_processed_gemini.json 
650 0 |a Electron microscopy  |9 18883 
942 |2 ddc  |c BK  |n 1 
999 |c 10034  |d 10034