Electron microscopy and analysis

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Автор: Goodhew, Peter J.
Формат: Книга
Мова:Англійська
Опубліковано: London Routledge c2000
Редагування:3rd ed.
Предмети:
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!