Electron microscopy and analysis

Guardat en:
Dades bibliogràfiques
Autor principal: Goodhew, Peter J.
Format: Llibre
Idioma:anglès
Publicat: London Routledge c2000
Edició:3rd ed.
Matèries:
Etiquetes: Afegir etiqueta
Sense etiquetes, Sigues el primer a etiquetar aquest registre!

UL

Detall dels fons de UL
Signatura: 502.825 G652e
Còpia Not For Loan