תמונות העטיפה

Electron microscopy and analysis

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Goodhew, Peter J.
פורמט: ספר
שפה:אנגלית
יצא לאור: London Routledge c2000
מהדורה:3rd ed.
נושאים:
Electron microscopy
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!

UL

פרטי מלאי ספרים מ UL
סימן המיקום: 502.825 G652e
עותק Not For Loan

פריטים דומים