Electron microscopy and analysis

Spremljeno u:
Bibliografski detalji
Glavni autor: Goodhew, Peter J.
Format: Knjiga
Jezik:engleski
Izdano: London Routledge c2000
Izdanje:3rd ed.
Teme:
Oznake: Dodaj oznaku
Bez oznaka, Budi prvi tko označuje ovaj zapis!

UL

Detalji primjeraka od UL
Signatura: 502.825 G652e
Primjerak Not For Loan