Electron microscopy and analysis

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
1. autor: Goodhew, Peter J.
Format: Książka
Język:angielski
Wydane: London Routledge c2000
Wydanie:3rd ed.
Hasła przedmiotowe:
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!

UL

Szczegóły zapisu UL
Sygnatura: 502.825 G652e
Egzemplarz Not For Loan