Electron microscopy and analysis

Shranjeno v:

Bibliografske podrobnosti
Glavni avtor:	Goodhew, Peter J.
Format:	Knjiga
Jezik:	angleščina
Izdano:	London Routledge c2000
Izdaja:	3rd ed.
Teme:	Electron microscopy
Oznake:	Označite Brez oznak, prvi označite!

UL

Podrobnosti zaloge UL
Signatura:	502.825 G652e
Kopija	Not For Loan