Applied logistic regression/

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي: Hosmer, David W
مؤلفون آخرون: Lemeshow, Stanley
التنسيق: كتاب
اللغة:الإنجليزية
منشور في: New York: John Wiley, c1989.
سلاسل:(Wiley series in probability and mathematical statistics)
الموضوعات:
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
الوصف
وصف المادة:"A Wiley-Interscience Publication".
وصف مادي:xiii, 307p.: ill. ; 24cm.
بيبلوغرافيا:Bibliography: p. 291-300. Includes index and tables.