Applied logistic regression/

Saved in:
Bibliografiske detaljer
Hovedforfatter: Hosmer, David W
Andre forfattere: Lemeshow, Stanley
Format: Bog
Sprog:engelsk
Udgivet: New York: John Wiley, c1989.
Serier:(Wiley series in probability and mathematical statistics)
Fag:
Tags: Tilføj Tag
Ingen Tags, Vær først til at tagge denne postø!
Beskrivelse
Emne beskrivelse:"A Wiley-Interscience Publication".
Fysisk beskrivelse:xiii, 307p.: ill. ; 24cm.
Bibliografi:Bibliography: p. 291-300. Includes index and tables.