Applied logistic regression/

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Hosmer, David W
Weitere Verfasser: Lemeshow, Stanley
Format: Buch
Sprache:Englisch
Veröffentlicht: New York: John Wiley, c1989.
Schriftenreihe:(Wiley series in probability and mathematical statistics)
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Beschreibung
Beschreibung:"A Wiley-Interscience Publication".
Beschreibung:xiii, 307p.: ill. ; 24cm.
Bibliographie:Bibliography: p. 291-300. Includes index and tables.