Applied logistic regression/

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Detalles Bibliográficos
Autor principal: Hosmer, David W
Otros Autores: Lemeshow, Stanley
Formato: Libro
Lenguaje:inglés
Publicado: New York: John Wiley, c1989.
Colección:(Wiley series in probability and mathematical statistics)
Materias:
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Descripción
Notas:"A Wiley-Interscience Publication".
Descripción Física:xiii, 307p.: ill. ; 24cm.
Bibliografía:Bibliography: p. 291-300. Includes index and tables.