Applied logistic regression/

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Detalles Bibliográficos
Autor Principal: Hosmer, David W
Outros autores: Lemeshow, Stanley
Formato: Libro
Idioma:inglés
Publicado: New York: John Wiley, c1989.
Series:(Wiley series in probability and mathematical statistics)
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Descripción
descrición da copia:"A Wiley-Interscience Publication".
Descrición Física:xiii, 307p.: ill. ; 24cm.
Bibliografía:Bibliography: p. 291-300. Includes index and tables.