Applied logistic regression/

Kaydedildi:
Detaylı Bibliyografya
Yazar: Hosmer, David W
Diğer Yazarlar: Lemeshow, Stanley
Materyal Türü: Kitap
Dil:İngilizce
Baskı/Yayın Bilgisi: New York: John Wiley, c1989.
Seri Bilgileri:(Wiley series in probability and mathematical statistics)
Konular:
Etiketler: Etiketle
Etiket eklenmemiş, İlk siz ekleyin!
Diğer Bilgiler
Diğer Bilgileri:"A Wiley-Interscience Publication".
Fiziksel Özellikler:xiii, 307p.: ill. ; 24cm.
Bibliyografya:Bibliography: p. 291-300. Includes index and tables.