Applied logistic regression/

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Hosmer, David W
Weitere Verfasser:	Lemeshow, Stanley
Format:	Buch
Sprache:	Englisch
Veröffentlicht:	New York: John Wiley, c1989.
Schriftenreihe:	(Wiley series in probability and mathematical statistics)
Schlagworte:	Regression analysis
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