Applied logistic regression/

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Detalles Bibliográficos
Autor principal:	Hosmer, David W
Otros Autores:	Lemeshow, Stanley
Formato:	Libro
Lenguaje:	inglés
Publicado:	New York: John Wiley, c1989.
Colección:	(Wiley series in probability and mathematical statistics)
Materias:	Regression analysis
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

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