Applied logistic regression/

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Détails bibliographiques
Auteur principal:	Hosmer, David W
Autres auteurs:	Lemeshow, Stanley
Format:	Livre
Langue:	anglais
Publié:	New York: John Wiley, c1989.
Collection:	(Wiley series in probability and mathematical statistics)
Sujets:	Regression analysis
Tags:	Ajouter un tag Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!

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