Applied logistic regression/

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Detalles Bibliográficos
Autor Principal:	Hosmer, David W
Outros autores:	Lemeshow, Stanley
Formato:	Libro
Idioma:	inglés
Publicado:	New York: John Wiley, c1989.
Series:	(Wiley series in probability and mathematical statistics)
Subjects:	Regression analysis
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