Applied logistic regression/

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
1. autor: Hosmer, David W
Kolejni autorzy: Lemeshow, Stanley
Format: Książka
Język:angielski
Wydane: New York: John Wiley, c1989.
Seria:(Wiley series in probability and mathematical statistics)
Hasła przedmiotowe:
Etykiety: Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!

UL

Szczegóły zapisu UL
Sygnatura: 519.536 H827a
Egzemplarz c1989. Not For Loan
Egzemplarz c1989. On Shelf