Applied logistic regression/

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Detalhes bibliográficos
Autor principal:	Hosmer, David W
Outros Autores:	Lemeshow, Stanley
Formato:	Livro
Idioma:	inglês
Publicado em:	New York: John Wiley, c1989.
Colecção:	(Wiley series in probability and mathematical statistics)
Assuntos:	Regression analysis
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