Applied logistic regression/

Сохранить в:
Библиографические подробности
Главный автор: Hosmer, David W
Другие авторы: Lemeshow, Stanley
Формат: ‌
Язык:английский
Опубликовано: New York: John Wiley, c1989.
Серии:(Wiley series in probability and mathematical statistics)
Предметы:
Метки: Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!

UL

Подробно о фондах из UL
Шифр: 519.536 H827a
Копировать c1989. Not For Loan
Копировать c1989. On Shelf