Diffraction and imaging techniques in material science /

Guardat en:
Dades bibliogràfiques
Altres autors: Edited by Gevers, R., Landuyt, J. van
Format: Llibre
Idioma:anglès
Publicat: Amsterdam ; North-Holland Pub. c1978.
Edició:2nd ed .
Matèries:
Etiquetes: Afegir etiqueta
Sense etiquetes, Sigues el primer a etiquetar aquest registre!

MARC

LEADER 00000cam a2200000 i 4500
001 1523
003 BD-SaJUCL
005 20260314060849.0
008 780928s1978 ne af b 101 0 eng
040 |a BD-SaJUCL  |c BD-SaJUCL  |d BD-SaJUCL 
082 0 0 |a 620.1127  |b A498d 
245 0 0 |a Diffraction and imaging techniques in material science /   |c editors, S. Amelinckx, R. Gevers, J. Van Landuyt. 
250 |a 2nd ed . 
260 |a Amsterdam ;   |b North-Holland Pub.   |c c1978. 
300 |a 2 vols . 
650 0 |a Electron microscopy  |9 50603 
650 0 |a Electrons Diffraction  |9 50604 
700 1 |a Edited by Gevers, R.  |9 50605 
700 1 |a Landuyt, J. van.  |9 50606 
942 |2 ddc  |c BK  |n 1 
999 |c 1523  |d 1523