Diffraction and imaging techniques in material science /

Gorde:

Xehetasun bibliografikoak
Beste egile batzuk:	Edited by Gevers, R., Landuyt, J. van
Formatua:	Liburua
Hizkuntza:	ingelesa
Argitaratua:	Amsterdam ; North-Holland Pub. c1978.
Edizioa:	2nd ed .
Gaiak:	Electron microscopy Electrons Diffraction
Etiketak:	Etiketa erantsi Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!

UL