Diffraction and imaging techniques in material science /

Tallennettuna:

Bibliografiset tiedot
Muut tekijät:	Edited by Gevers, R., Landuyt, J. van
Aineistotyyppi:	Kirja
Kieli:	englanti
Julkaistu:	Amsterdam ; North-Holland Pub. c1978.
Painos:	2nd ed .
Aiheet:	Electron microscopy Electrons Diffraction
Tagit:	Lisää tagi Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!

UL