Diffraction and imaging techniques in material science /

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Detalles Bibliográficos
Outros autores:	Edited by Gevers, R., Landuyt, J. van
Formato:	Libro
Idioma:	inglés
Publicado:	Amsterdam ; North-Holland Pub. c1978.
Edición:	2nd ed .
Subjects:	Electron microscopy Electrons Diffraction
Tags:	Engadir etiqueta Sen Etiquetas, Sexa o primeiro en etiquetar este rexistro!

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