Diffraction and imaging techniques in material science /

שמור ב:

מידע ביבליוגרפי
מחברים אחרים:	Edited by Gevers, R., Landuyt, J. van
פורמט:	ספר
שפה:	אנגלית
יצא לאור:	Amsterdam ; North-Holland Pub. c1978.
מהדורה:	2nd ed .
נושאים:	Electron microscopy Electrons Diffraction
תגים:	הוספת תג אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!

UL