Diffraction and imaging techniques in material science /

Spremljeno u:

Bibliografski detalji
Daljnji autori:	Edited by Gevers, R., Landuyt, J. van
Format:	Knjiga
Jezik:	engleski
Izdano:	Amsterdam ; North-Holland Pub. c1978.
Izdanje:	2nd ed .
Teme:	Electron microscopy Electrons Diffraction
Oznake:	Dodaj oznaku Bez oznaka, Budi prvi tko označuje ovaj zapis!

UL