Diffraction and imaging techniques in material science /

Zapisane w:

Opis bibliograficzny
Kolejni autorzy:	Edited by Gevers, R., Landuyt, J. van
Format:	Książka
Język:	angielski
Wydane:	Amsterdam ; North-Holland Pub. c1978.
Wydanie:	2nd ed .
Hasła przedmiotowe:	Electron microscopy Electrons Diffraction
Etykiety:	Dodaj etykietę Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!

UL