Diffraction and imaging techniques in material science /

Сохранить в:

Библиографические подробности
Другие авторы:	Edited by Gevers, R., Landuyt, J. van
Формат:	‌
Язык:	английский
Опубликовано:	Amsterdam ; North-Holland Pub. c1978.
Редактирование:	2nd ed .
Предметы:	Electron microscopy Electrons Diffraction
Метки:	Добавить метку Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!

UL