Diffraction and imaging techniques in material science /

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Інші автори:	Edited by Gevers, R., Landuyt, J. van
Формат:	Книга
Мова:	Англійська
Опубліковано:	Amsterdam ; North-Holland Pub. c1978.
Редагування:	2nd ed .
Предмети:	Electron microscopy Electrons Diffraction
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!

UL