Handbook of instrumentation and techniques for semiconductor nanostructure characterization /
Сохранить в:
| Другие авторы: | , |
|---|---|
| Формат: | |
| Язык: | английский |
| Опубликовано: |
London :
World Scientific,
c2012.
|
| Серии: | World Scientific series in materials and energy ;
v. 1-2 |
| Предметы: | |
| Метки: |
Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|
UL
| Шифр: |
620.115 H236 |
|---|---|
| Копировать 2012 | Not For Loan |
| Копировать 2012 | On Shelf |