Fundamentals of Modern VLSI Devices / Yuan Taur & Tak H.Ning

Uloženo v:

Podrobná bibliografie
Hlavní autor:	Taur, Yuan
Další autoři:	By, Ning, Tak H.
Médium:	Kniha
Jazyk:	angličtina
Vydáno:	New Delhi : Cambridge, C2020.
Vydání:	2nd ed.
Témata:	Integrated circuits very large scale integration Metal Oxide Semiconductors Complementary
Tagy:	Přidat tag Žádné tagy, Buďte první, kdo vytvoří štítek k tomuto záznamu!

UL

Informace o exemplářích z: UL
Signatura:	621.395 T222f, 2nd ed .
Jednotka 2020	Not For Loan