Fundamentals of Modern VLSI Devices / Yuan Taur & Tak H.Ning

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Taur, Yuan
Weitere Verfasser:	By, Ning, Tak H.
Format:	Buch
Sprache:	Englisch
Veröffentlicht:	New Delhi : Cambridge, C2020.
Ausgabe:	2nd ed.
Schlagworte:	Integrated circuits very large scale integration Metal Oxide Semiconductors Complementary
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Bestandsangaben von UL
Signatur:	621.395 T222f, 2nd ed .
Exemplar 2020	Not For Loan