Fundamentals of Modern VLSI Devices / Yuan Taur & Tak H.Ning

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Détails bibliographiques
Auteur principal:	Taur, Yuan
Autres auteurs:	By, Ning, Tak H.
Format:	Livre
Langue:	anglais
Publié:	New Delhi : Cambridge, C2020.
Édition:	2nd ed.
Sujets:	Integrated circuits very large scale integration Metal Oxide Semiconductors Complementary
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Informations d'exemplaires de UL
Cote:	621.395 T222f, 2nd ed .
Exemplaire 2020	Not For Loan