Fundamentals of Modern VLSI Devices / Yuan Taur & Tak H.Ning

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Detalhes bibliográficos
Autor principal:	Taur, Yuan
Outros Autores:	By, Ning, Tak H.
Formato:	Livro
Idioma:	inglês
Publicado em:	New Delhi : Cambridge, C2020.
Edição:	2nd ed.
Assuntos:	Integrated circuits very large scale integration Metal Oxide Semiconductors Complementary
Tags:	Adicionar Tag Sem tags, seja o primeiro a adicionar uma tag!

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Detalhes do Exemplar UL
Área/Cota:	621.395 T222f, 2nd ed .
Cód. Barras: 2020	Not For Loan