Fundamentals of Modern VLSI Devices / Yuan Taur & Tak H.Ning

Sparad:

Bibliografiska uppgifter
Huvudupphovsman:	Taur, Yuan
Övriga upphovsmän:	By, Ning, Tak H.
Materialtyp:	Bok
Språk:	engelska
Publicerad:	New Delhi : Cambridge, C2020.
Upplaga:	2nd ed.
Ämnen:	Integrated circuits very large scale integration Metal Oxide Semiconductors Complementary
Taggar:	Lägg till en tagg Inga taggar, Lägg till första taggen!

UL

Beståndsuppgifter i UL
Signum:	621.395 T222f, 2nd ed .
Exemplar 2020	Not For Loan