Computer simulation tools for X-ray analysis: scattering and diffraction methods/
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Buch |
| Sprache: | Englisch |
| Veröffentlicht: |
New York: Cham:
Springer International Publishing,
c2016
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| Beschreibung: | xv, 294p. ills.; 22cm |
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| Bibliographie: | Includes bibliographical reference and index |