Computer simulation tools for X-ray analysis: scattering and diffraction methods/
Guardado en:
| Autor principal: | |
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| Formato: | Libro |
| Lenguaje: | inglés |
| Publicado: |
New York: Cham:
Springer International Publishing,
c2016
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| Materias: | |
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| Descripción Física: | xv, 294p. ills.; 22cm |
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| Bibliografía: | Includes bibliographical reference and index |