Computer simulation tools for X-ray analysis: scattering and diffraction methods/
Tallennettuna:
| Päätekijä: | |
|---|---|
| Aineistotyyppi: | Kirja |
| Kieli: | englanti |
| Julkaistu: |
New York: Cham:
Springer International Publishing,
c2016
|
| Aiheet: | |
| Tagit: |
Lisää tagi
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!
|
| Ulkoasu: | xv, 294p. ills.; 22cm |
|---|---|
| Bibliografia: | Includes bibliographical reference and index |