Computer simulation tools for X-ray analysis: scattering and diffraction methods/
שמור ב:
| מחבר ראשי: | |
|---|---|
| פורמט: | ספר |
| שפה: | אנגלית |
| יצא לאור: |
New York: Cham:
Springer International Publishing,
c2016
|
| נושאים: | |
| תגים: |
הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|
| תיאור פיזי: | xv, 294p. ills.; 22cm |
|---|---|
| ביבליוגרפיה: | Includes bibliographical reference and index |