Computer simulation tools for X-ray analysis: scattering and diffraction methods/
Bewaard in:
| Hoofdauteur: | |
|---|---|
| Formaat: | Boek |
| Taal: | Engels |
| Gepubliceerd in: |
New York: Cham:
Springer International Publishing,
c2016
|
| Onderwerpen: | |
| Tags: |
Voeg label toe
Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!
|
| Fysieke beschrijving: | xv, 294p. ills.; 22cm |
|---|---|
| Bibliografie: | Includes bibliographical reference and index |