Computer simulation tools for X-ray analysis: scattering and diffraction methods/
Zapisane w:
| 1. autor: | |
|---|---|
| Format: | Książka |
| Język: | angielski |
| Wydane: |
New York: Cham:
Springer International Publishing,
c2016
|
| Hasła przedmiotowe: | |
| Etykiety: |
Dodaj etykietę
Nie ma etykietki, Dołącz pierwszą etykiete!
|
| Opis fizyczny: | xv, 294p. ills.; 22cm |
|---|---|
| Bibliografia: | Includes bibliographical reference and index |