Computer simulation tools for X-ray analysis: scattering and diffraction methods/
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| Autor principal: | |
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| Formato: | Livro |
| Idioma: | inglês |
| Publicado em: |
New York: Cham:
Springer International Publishing,
c2016
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| Assuntos: | |
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| Descrição Física: | xv, 294p. ills.; 22cm |
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| Bibliografia: | Includes bibliographical reference and index |