Computer simulation tools for X-ray analysis: scattering and diffraction methods/
Сохранить в:
| Главный автор: | |
|---|---|
| Формат: | |
| Язык: | английский |
| Опубликовано: |
New York: Cham:
Springer International Publishing,
c2016
|
| Предметы: | |
| Метки: |
Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|
| Объем: | xv, 294p. ills.; 22cm |
|---|---|
| Библиография: | Includes bibliographical reference and index |