Computer simulation tools for X-ray analysis: scattering and diffraction methods/
Збережено в:
| Автор: | |
|---|---|
| Формат: | Книга |
| Мова: | Англійська |
| Опубліковано: |
New York: Cham:
Springer International Publishing,
c2016
|
| Предмети: | |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Фізичний опис: | xv, 294p. ills.; 22cm |
|---|---|
| Бібліографія: | Includes bibliographical reference and index |