Computer simulation tools for X-ray analysis: scattering and diffraction methods/
Guardat en:
| Autor principal: | |
|---|---|
| Format: | Llibre |
| Idioma: | anglès |
| Publicat: |
New York: Cham:
Springer International Publishing,
c2016
|
| Matèries: | |
| Etiquetes: |
Afegir etiqueta
Sense etiquetes, Sigues el primer a etiquetar aquest registre!
|
UL
| Signatura: |
548 M742c |
|---|---|
| Còpia | Not For Loan |