Computer simulation tools for X-ray analysis: scattering and diffraction methods/
Guardado en:
| Autor principal: | |
|---|---|
| Formato: | Libro |
| Lenguaje: | inglés |
| Publicado: |
New York: Cham:
Springer International Publishing,
c2016
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| Materias: | |
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UL
| Número de Clasificación: |
548 M742c |
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| Copia | Not For Loan |